正置偏光顯微鏡Leica DM4 P

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更新時間：2023-11-24 09:13:34瀏覽次數(shù)：234次

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產(chǎn)品簡介

LeicaDM4P：服務唾手可得如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用LeicaDM4P

詳細介紹

Leica DM4 P：服務唾手可得

如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用 Leica DM4 P。

通過編碼組件存儲和調用信息

想要更換物鏡時，可通過照明強度控制和對比度管理器調用照明強度和光闌的設置。
得益于編碼物鏡轉盤的存在，攝取的圖像始終得到校準。

辨識感興趣的結構

25-mm 大視場為您帶來的概覽圖像。
為您展現(xiàn)所需具體信息的往往是低放大倍率，而不是細節(jié)圖 — 想想流動結構、變形結構或冷卻過程造成的帶狀排列結構。

讓物鏡轉盤來應對！

采用配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率的物鏡轉盤，獲取豐富的樣品信息。

使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構
如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率
切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應
而且物鏡轉盤也是編碼的，可為您提供智能支持。

兩種照明物盡其用

您可以將 Leica DM4 P 配置為 LED 照明使用透射光或入射光，或者也可以一次性將其配置為使用兩種光源。

進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。
進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。
在地質研究等特殊應用中，兩種光都。
當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。

研究光學屬性

錐光法用于研究干涉圖。這些圖的形狀和由補償器進行的修改可以生成有關調查材料光學屬性方面的信息。您可以測定材料的光軸數(shù)量、光軸角度和光學特性。

Leica DM4 P 非常理想地適用于錐光法：

具有高放大倍率和高數(shù)值孔徑的無應力物鏡是該項應用的條件。
使用特殊 63 倍徠卡物鏡，能滿足偏振等級 5 的要求，從而獲取結果。

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