TH-01, Test Hook Probe(試驗鉤)

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更新時間：2025-05-09 10:20:03瀏覽次數(shù)：44次

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珠海科邁爾儀器儀表有限公司

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產(chǎn)品簡介

TH-01, Test Hook Probe(試驗鉤).品牌:美國.ED&D

詳細介紹

ACCESSIBILITY PROBES 試驗探針

FOR TESTING THE PROTECTION AGAINST ACCESS TO HAZARDOUS PARTS

TH-01, Test Hook Probe(試驗鉤)

Used on enclosures prior to accessibility testing. The test hook is “hooked” into vents and seams in the enclosure & then pulled with a force (usually 20N). The hook has a hole at its long end, for use in conjunction with a PFI series Force Gauge. Made entirely of stainless steel.

美國.ED&D產(chǎn)品服務于:IBM ，美國航空暨太空總署，英代爾，蘋果， NCR ，索尼公司，太陽，飛利浦公司，思科， AT&T ， Compaq ， JVC ， Hewlett-Packard ，摩托羅拉， Mattel ，戴爾,3 Com 等公司;專為UL ， CSA ， ETL ， TUV,Demko等試驗室提供檢測產(chǎn)品.

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