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深圳市藍星宇電子科技有限公司


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Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡

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更新時間:2023-07-13 12:47:12瀏覽次數(shù):279次

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產品簡介

Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡,肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針,與3View2XP(Gatan公司制造)結合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構,可以對精細結構進行三維分析。

詳細介紹

Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡

肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針,與View®2XP(Gatan公司制造)結合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構,可以對精細結構進行三維分析。


產品規(guī)格:



產品特點:

· 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時間穩(wěn)定地提供高電流下的微細探針,與3View®2XP(Gatan公司制造)結合使用,能對樣品進行自動切割,自動獲取圖像。通過對獲得的圖像進行三維重構,可以對精細結構進行三維分析。

· 系統(tǒng)簡介

· JSM-7100F、7800F和3View®2XP(Gatan產品)組合使用,能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進行數(shù)百微米區(qū)域的三維重構。通過三維重構能夠觀察二維圖像上無法看到的細胞的深處結構。

。外觀:

操作

· 自動、反復地切割樣品和獲取圖像,能獲得大量的切片圖像。 對獲得的切片圖像,通過軟件進行堆疊、調節(jié)、生成三維圖像。

應用數(shù)據(jù)

小鼠大腦 突觸
細分數(shù)據(jù)
黃色區(qū)域:突觸囊泡
綠化面積:突觸后部增厚部分
紅色區(qū)域:突觸后部


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