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上海百賀儀器科技有限公司
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當前位置:上海百賀儀器科技有限公司>>掃描電鏡(SEM)>> JCM-5700JEOL可移動式掃描電子顯微鏡

JEOL可移動式掃描電子顯微鏡

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號JCM-5700

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地

更新時間:2023-04-19 13:46:56瀏覽次數(shù):417次

聯(lián)系我時,請告知來自 包裝印刷網(wǎng)
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺在任何地方都可以使用的高性能可移動式掃描電子顯微鏡。

JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺生產(chǎn)現(xiàn)場-研究室用SEM  
在任何地方都可以使用的高性能可移動式SEM  
運行成本低(長時間不用維護)檢查項目-研究題目等各項條件均可記憶 
任何人都可以得到良好結(jié)果的高度再現(xiàn)性可以設(shè)定獨立的操作條件,使用更加自由的MY SEM

輕松獲得幾萬倍的圖像
簡單友好的操作界面
儀器啟動僅需3分鐘
請看掃描電子顯微鏡的威力

與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡的比較

掃描電子顯微鏡(SEM)與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡相比,具有焦距更深,分辨率更好的特點。相反,得不到象光學(xué)顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點,可以廣泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。

光學(xué)顯微鏡<樣品: 印刷基板> 掃描電子顯微鏡 JCM-5700

 

 


鮮明的SEM圖像上進行高精度測量
從極低倍到高倍,在圖像上就可以直接進行長度和角度測量,即在鮮明的圖像上進行高精度測量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件(選購件)打開并進行測量。

3D觀察-測量(選購)
利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點,可以進行立體的高度測量。同一個視野,傾斜角度改變10°左右,獲得兩張圖像,進行高度測量。

不僅可以觀察圖像,還可以進行成分分析
不僅可以利用二次電子信息進行樣品表面觀察,還可以利用背散射電子成份襯度像進行異物及多層膜觀察。另外,還可以使用能量分散型光譜儀(EDS)進行元素分析。日本電子產(chǎn)能譜儀JED-2300可以與主機實現(xiàn)一體化,將點鏡擴展為分析型點鏡。

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