1、高分辨率-無論何時,無論哪次

在樣品上每個原子實現(xiàn)力掃描 缺陷的高分辨三維尺寸和機(jī)械性能成像

2、釋放帶寬實現(xiàn)更快成像

通過快速輕敲，不降低效果的同時增加掃描速度

采用雙向掃描選項即刻實現(xiàn)成像速度翻倍

采用布魯克專有的高速探針，結(jié)合已知規(guī)程（BKM）可將掃描速度提高10倍

3、完整的納米尺度定量信息

可信的納米級粘彈性表征

常規(guī)地獲得高質(zhì)量力學(xué)性能數(shù)據(jù)

4、獲取納米力學(xué)和納米化學(xué)數(shù)據(jù)的高級AFM研究

在之前不可能研究的樣品上研究電學(xué)性能

獲取整體力學(xué)數(shù)據(jù)，從而全面表征接觸力學(xué)機(jī)制

5、潛力無限-靈活，開放

使研究人員通過PeakForce Tapping®技術(shù)獲得高分辨率圖像

先使用已有的測量模式；如果沒有，創(chuàng)造一個 在開放的平臺上直接進(jìn)行改造， 與其它技術(shù)聯(lián)用

6、超乎想象的簡單

NanoScope®是世界認(rèn)可，被廣泛引用的原子力顯微鏡