臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 薄膜自動(dòng)厚度測(cè)量?jī)x，CHY-U臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備，配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，誤差??；儀器在提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析的同時(shí)，配備微型打印機(jī)，可自動(dòng)保存并且打印多達(dá)100組測(cè)試結(jié)果。除此之外，儀器還配備RS232接口，方便實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和結(jié)果的分享。

臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 薄膜自動(dòng)厚度測(cè)量?jī)x

規(guī)格：CHY-U

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在工業(yè)中，薄膜是一種使用非常頻繁的材料，而且廣泛應(yīng)用于工業(yè)中的各個(gè)方面，如產(chǎn)品包裝、電子生產(chǎn)等。在薄膜中，厚度是否均勻是衡量其質(zhì)量的重要標(biāo)準(zhǔn)，因?yàn)槿绻∧ず穸炔痪?，不但?huì)影響到薄膜的拉伸強(qiáng)度、阻隔性等，還會(huì)影響到薄膜的后續(xù)加工。

對(duì)于微電子薄膜、光學(xué)薄膜等，薄膜的厚度還直接關(guān)系到薄膜材料能否正常工作；另外，大規(guī)模集成電路中的薄膜，如果厚度發(fā)生變化，會(huì)直接影響到電路的性能。除此之外，薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導(dǎo)率，表面結(jié)構(gòu)等都與厚度密不可分。為此，需要對(duì)薄膜的厚度測(cè)量。

臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀 薄膜自動(dòng)厚度測(cè)量?jī)x

CHY-U臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器根據(jù)GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度測(cè)定-機(jī)械測(cè)量法》、ISO4593《塑料薄膜和薄板機(jī)械掃描測(cè)定厚度》等標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)生產(chǎn)的厚度測(cè)量?jī)x器，廣泛適用于2mm范圍內(nèi)各種薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。

CHY-U臺(tái)式薄膜測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備，配備自動(dòng)進(jìn)樣器，可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量，誤差小；儀器在提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析的同時(shí)，配備微型打印機(jī)，可自動(dòng)保存并且打印多達(dá)100組測(cè)試結(jié)果。除此之外，儀器還配備RS232接口，方便實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)和結(jié)果的分享。

技術(shù)參數(shù)               

測(cè)量范圍 ：  0-2mm （其他量程可定制）    

分辨率：     0.1um

測(cè)量速度：   10次/min（可調(diào)）     

測(cè)量壓力：   17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）      

接觸面積：   50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種  

進(jìn)樣步矩：   0 ～ 1300 mm(可調(diào))     

進(jìn)樣速度：   0 ～ 120 mm/s(可調(diào))   

機(jī)器尺寸：   450mm×340mm×390mm (長(zhǎng)寬高)     

重    量：     23Kg    

工作溫度：     15℃-50℃

相對(duì)濕度：     ≤80%,無(wú)凝露    

試驗(yàn)環(huán)境：     無(wú)震動(dòng)，無(wú)電磁干擾       

工作電源：     220V 50Hz

注：以上價(jià)格僅供參考，如需了解詳情或詳細(xì)價(jià)格，敬請(qǐng)致電濟(jì)南三泉中石。